GJBZ 108A-2006 电子设备非工作状态可靠性预计手册
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ID： |
63B94EABD59049BBAEA533E8AB0424E7 |
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文件大小(MB)： |
4.04 |
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页数： |
98 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-14 |
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GJ日,中华人民共和国国家军用标准,FL 0102 GJB/Z 1O8A-2OO6,代替 GJB/Z 108-1998,电子设备非工作状态可靠性,预计手册,Nonoperating reliability prediction handbook for,electronic equipment,2006-10-20 发布com. bzfxw. com下载2007-01-01 实施,中国人民解放军总装备部 批准,GJB/Z108A-2006,目 次,前言. n,1 范围. 1,2引用文件.. 1,3术语、定义相符号..9,3.1 术语和定义. 9,3.2 符号.. 10,4 要求 10,4.1 概述. .. 10,4.2 电子设备非工作状态可靠性预计的一般程序 ,.. 10,4.3 非工作环境分类. 10,4.4 元器件质量等级和非工作质量系数 11,5元器件非工作可靠性详细预计法.. 11,5.1 概述. 11,5.2 微电路..12,5.3 半导体分立器件. 21,5.4 电子管..29,5.5 电阻器..31,5.6 电位器..34,5.7 电容器..37,5.8 感性元件.. 4.8,5.9 继电器. 52,5.10 开关 54,5.11 连接器. 55,5.12 旋转电机. 57,5.13 印制板、焊接点与SMT互连.. 58,5.14 磁性器件. 61,5.15 谐振器和振荡器 62,5.16 滤波器 63,5.1 ?电池 . . 65,5.18 激光器 66,5.19 压电陀螺. 67,5.20 光纤连接器. 67,5.21 其他元其件. 68,6元器件非工作计数可靠性预计法.. 71,I,GJB/Z 108A-2006,刖,本指导性技术文件代替GJB/Z 108-1998《电子设备非工作状态可靠性预计于?册瓦本指导性技术文,件修订时仍保拉了 GJB/Z 108-1998中元器件非工作可靠性详细预计法和元器件非工作计数可.靠性预计,法的框架结构,与其相比，主要有以下变更：,a）增补了直升机环境类别及其非工作环境系数和导弹飞行环境类别及其非工作环境系数，并将环,境类别细分，环境类别由GJB/Z 108-1998的15类环境扩展为19类环境：,b）更新了质量等级表中引用的生产执行标准，调整了部分元器件的质量系数：,c）调整了各类别元器件的非工作基本失效率数值和亢系数值；,d）更新了各类别元器件通用失效率表；,e）增加了 GaAs单片微波集成电路、FLASH、FIFO、片式膜电阻器、光敏电阻器、3类镜介电容,器、电容网络、片式线圈和片式电感器、振荡器、SMT互连、压电陀螺' 光纤连接器、激光,器、固体继电器、红外发光二极管、分米波发射管、光电管、充气微波开关管、小功率速调管、,温敏元件、定向耦合器、仿真负载、仿真终端共23类元器件的非工作失效率预计模型或参数;,0 修改和完善了】类窟介电容器、2类宽介电容器、固体锂电解电容器、铝电解电容器、薄膜电,容器、旋转电机、磁性器件共7类元器件的非工作失效率预计模型：,g）扩展了微电路的手工作预计范围（最大规模）；,1）数字电路从原3 000门扩展至5 000 000门；,2）模拟电路从原1000个晶体管扩展到5 000个晶体管：,3）存储器从原262 144位扩展至67 108 864位；,4）微处理器的复杂度原文件以位数表征，现修改为以晶体管数表征，复杂度扩展至,220 000 000个晶体管,h）增加了针栅阵列（PGA）、球栅阵列（BGA）、芯片载体（LCC）等新型封装形式的非工作封装系,数值,增补上述内容是为了满足武器装备现代化建设中采用了大量新型元器件从而产生的对可察性预计,覆盖面、实用性、准确性等方面的需要，同时为维修性、保障性、测试性、安全性等领域工作的展开梃,供更扎实的基础,本指导性技术文件由中国人民解放军总装名部电子信息基础部提出.,本指导性技术文件起草单位：信息产业部电子第五研究所、总装备部技术基础管理中心.,本指导性技术文件主要起草人：张熠照、宋太亮、莫郁薇、聂国健、周军连、王江山、杜春兰、,毛有兰、王蕴辉、朱启新、庞富丽、杨家铿、古文刚、林长苓、郑丽香,本指导性技术文件于1998年首次发布.,n,GJB/Z108A-2006,电子设备非工作状态可靠性,预计手册,1范围,本指导性技术文件为电子设备加系统的非T.作状态可靠性预计提供了基本的数据和方法.,本指导性技术文件适用于电了设备和系统在非工作状态下的可靠性预计，其中元器件非工作可乖性,详细预计法适用于产品已具有详细的元器件清单的设备研制阶段；元器件非工作计数可靠性预计法适用,于产品研制的初步设计阶段.,本指导性技术文件提供的基本失效率数据未考虑核辐射环境，也未考虑电离辐射的影响.,2引用文件,下列文件中的有关条款通过引用而成为本指导性技术文件的条款。凡注日期或版次的引用文件.其,后的任何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本指导性技术文件，但提倡使用本指导性技,本文件的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本指导,性技术文件,GB/T 2658小型交流风机通用技术条件,GB/T 2693电子设备用固定电容器 第1部分：总规范,GB/T4588.L,GB/T 4588.2,GB/T 4588.4,GB/T 4588.10,GB/T 4589」,无金属化孔单双面印制板分规范,有金属化孔单双面印制板分规范,多层印制板分规范,有贯穿连接的刚挠双面印制板规范,半导体器件分立器件和集成电路总规范,GB/T 4874……
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